NI STS使用培训系列目录

　　① STS Test Head

　　NI STS 是一系列用于半导体特性分析和生产的硬件/软件产品。NI STS 系列由 STS T1、STS T2 和 STS T4 组成。T1、T2和 T4 的主要区别在于它们的尺寸以及它们可容纳的 18 插槽 NI PXI 机箱的数量(T1 - 一个 PXI 机箱;T2 - 两个 PXI 机箱;T4 - 四个 PXI 机箱)。本节介绍了 T1、T2 和 T4 的I/O和控件。本视频展示了 NI STS 输入和输出面板及其在测试单元内集成的功能。

　　② STS Operator Interface

　　本章介绍了在STS上运行测试的流程。OI(操作员界面)由多个控件和显示框组成，它们用于配置测试站、输入批次信息、执行测试以及查看良率、分bin信息和测试结果。

　　③ Tester Admins

　　本章提供了创建可启动 USB 驱动器的参考指南以及使用 Acronis Image 工具加载 STS 控制器镜像的过程。由于 OI 是客户端高度定制的操作员界面，因此我们还介绍了如何修改工厂的默认 STS 操作员界面并满足客户的特定需求。

　　④ Handlers and Probers

　　STS 可以Soft docking 或 Hard docking接到分选机和探针测试台。每种类型的 STS 都由标准通信接口和Docking 接口所组成。NI 已与几乎所有在大多数工厂中发现的常见Handler and Prober对接过。以下视频介绍了分选机和探针测试台驱动程序的配置过程，并介绍如何在操作员界面配置模拟分选机。

　　⑤ Tester Maintenance

　　本章——测试机维护介绍了 NI STS 系统的常规保养维护和基本操作。NI STS 维护软件是一套软件工具，使用户能够维护、监控、检修并校准 NI 半导体测试系统。大多数测试维护操作可以使用 NI 维护软件进行。

　　⑥ Test Program Development and Debug

　　本章介绍了 STS 测试程序架构、TestStand、TestStand半导体模块 (TSM) 以及客户在标准 Semi ATE 平台期望的其它组件/功能。引脚编程、分 bin、Digital Pattern编辑器等相关主题也可在本节中找到。