近日，始终致力于为工程师和科学家提供解决方案来应对全球最严峻工程挑战的供应商——美国国家仪器(National Instruments，简称NI)，与国内领先的高性能模拟信号链IC设计公司——思瑞浦微电子，简称3PEAK，宣布达成战略合作，旨在借力NI高性能模块化仪器实现实验室自动化测试，提高实验室验证测试效率、加快产品开发速度。

　　据IC Insights预测，2018年集成电路的销售额将增长8%左右，2017年的增长约为22%。而电源管理IC、专用模拟芯片和信号转换器的强劲销售预计将成为未来五年模拟增长的主要推动力。而在近年来中国模拟芯片市场上，智能终端设备、汽车电子等下游驱动力在近几年推动了对模拟芯片的需求，一些优秀的中国本土厂商也正在快马加鞭迎头赶上，在门槛极高的模拟领域实现突破。

　　思瑞浦微电子科技(苏州)股份有限公司，简称3PEAK。研发中心设在上海张江高科和苏州工业园区，是国内极少数聚焦高性能模拟信号链的IC设计公司，历经10年的发展与积累，在运算放大器、模数转换、数模转换、视频滤波、音频滤波、接口芯片、电源管理等领域，积累了大量正向研发IP,并持续实现大规模量产，同时公司产品被大量广泛的应用于国内外一线品牌客户，涵盖工业领域、医疗设备、汽车电子、通信系统和信息安全等多种应用领域。

　　模拟芯片由于其复杂性，在实验室阶段进行的验证性测试尤为重要。在传统的ADC/DAC测试中，均是采用的台式仪器和分析软件完成验证测试，但是NI基于PXI的模块化仪器在同步定时技术和多种仪表整合性上的优势大幅简化了ADC与DAC产品测试难度，可将信号源、时钟、数字Pattern Generator、源测量单元SMU、数字万用表DMM等多种仪表整合在一个小型PXI机箱中，并结合图形化编程软件LabVIEW快速进行针对ADC/DAC的线性度和动态特性测试，降低实验室自动化测试开发难度。

　　NI的开放性平台在高集成度和高性能之间兼顾，在信号源上24-bit高精度和针对射频的信号源满足不同应用场景的ADC的需求，同时NI是业界首个将传统ATE平台上的Pattern Generator整合到PXI平台，在PXI平台上实现ATE级的数字测试。

　　NI与3PEAK在ADC/DAC实验室测试仅仅是一个开始，后面还将合作方向扩大到高精度ADC/DAC等产品线。正如NI亚太区半导体业务拓展经理何为女士所说的：“NI非常高兴能够和3PEAK这样优秀的本土模拟芯片设计公司进行合作。NI通过平台化的解决方案帮助用户在实验室和量产测试中提升测试效率，帮助3PEAK及更多的中国本土优秀模拟芯片设计公司提升产品竞争力。”

　　3PEAK产品与市场总监宋浩然先生表示：“3PEAK非常高兴能与NI进行合作。作为国内极少数聚焦高性能模拟信号链的IC设计公司，高性能、高品质、高性价比产品是3PEAK的核心竞争力，我们相信，借助于NI高性能模块化仪器，3PEAK产品的测试效率将会提升，从而缩短产品研发周期。